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SN74ABTH18652APM

SN74ABTH18652APM

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Número de pieza
SN74ABTH18652APM
Fabricante/Marca
Serie
74ABTH
Estado de la pieza
Active
embalaje
Tray
Temperatura de funcionamiento
-40°C ~ 85°C
Tipo de montaje
Surface Mount
Paquete / Estuche
64-LQFP
Paquete de dispositivo del proveedor
64-LQFP (10x10)
Voltaje de suministro
4.5 V ~ 5.5 V
Número de bits
18
Tipo de lógica
Scan Test Device With Transceivers And Registers
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SN74ABTH18652APM Componentes electrónicos
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