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SN74BCT8374ANT
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Número de pieza
SN74BCT8374ANT
Fabricante/Marca
Serie
74BCT
Estado de la pieza
Obsolete
embalaje
Tube
Temperatura de funcionamiento
0°C ~ 70°C
Tipo de montaje
Through Hole
Paquete / Estuche
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Paquete de dispositivo del proveedor
24-PDIP
Voltaje de suministro
4.5 V ~ 5.5 V
Número de bits
8
Tipo de lógica
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
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